产品说明、技术参数及配置
CEMS-X100是天瑞仪器20多年X射线荧光（XRF）研发制造经验的最新结晶。仪器结合烟气颗粒物稀释采样技术和等速采样技术，将烟气中水分和温度降至一定温度后，颗粒物自动富集在卷状滤膜上，采用世界领先的高度集成专利探测器和X射线荧光数字多道分析技术检测重金属颗粒物在X射线激发下产生的X荧光强度，通过信号强度和体积换算精确计算烟气颗粒物中重金属的浓度。实现烟气中铅、汞、镉、铬、砷等几十种重金属含量和总排量的自动连续监测。
应用领域
废物焚烧炉、金属冶炼厂、电池制造业、工业炉窑、燃煤电厂、水泥窑
性能优势
1.可以同时测量多达二十多种重金属元素，测量元素可定制；
2.一般情况下，每15分钟即可得到分析结果；
3.非破坏性无损检测技术，允许样本存档，以备后续的实验室质控分析；
4.自动质量控制，具备内标元素可自动检查系统长期稳定性；
5.专业的防辐射处理，做到全方位防护；
6.与参比方法相比具有较高的检测精度；
7.无人值守，操作简便，维护简单，除过滤带外基本无其它日常耗材。
技术指标
可同时监测铅、铜、镉、铬、锌、镍等二十多种重金属元素；自动换算累积排放量
测量范围：0~5000ug/m3
检出限：≤0.1ug/m3
线性度：≥0.99
气体介质条件：温度-20~600℃ 压力-20~50kPa 流速0~30m/s
采样及分析时间：5~120分钟可设定
自动质控：每个样品自动质控
工作环境条件：温度温度-20~50℃ 湿度0~90%RH
通讯接口：RS232/RS485/RJ45，可配置GPRS模块
电源：220V AC±10%(50±1Hz),2500W
可选配套设备：恒温分析小屋
系统配置
一次采样系统
高温高湿等动力采样探头、一次采样系统防腐管路、一次采样系统伴热装置、高温型气体吸取装置、一次采样系统流量检测控制单元
二次采样系统
等动力二次取样伴热装置、二次取样系统流量检测控制单元、高精度采样动力装置
滤膜取样系统
卷膜移动控制装置、取样滤膜自动伴热装置
分析系统
高精度XRF分析模块
控制系统
电控单元、一体式工控机、CEMS-X100烟气重金属在线监测系统软件
校准样品
指定测量元素的校准膜片
烟气温压流监测系统