eMCP221翻盖探针合金转SD测试座
一产品特点：
※支持热拔插，可直接插读卡器与电脑连接测试。
※同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等所有同样封装的4BIT、8BITeMMC闪存记忆体。
※兼容不同尺寸IC(11.5x13,12x16,12x18,14x18mm),可自行更换限位框实现通用性降低使用成本。
※采用日本进口双头探针，性能稳定使用寿命长，使用寿命是同类产品的10倍以上；
※维护方便，不良探针可更换，重复利用率较高，降低使用成本。
※兼容有球无球测试，通用性好，降低使用成本。
※采用手动翻盖式结构,操作方便简单。
※采用浮板结构,定位精确,取放IC方便，工作效率更高。
※可进行测试和低级格式化。
二 测试
（1）选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内；
（2） 按方向插进空闲SD接口，连接电脑或者编程器进行相应的测试、烧录；
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